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根系分析系统生产厂家哪家好?优云谱品牌实力解析

更新时间:2026-06-11      点击次数:11

对于农业科研院所、植物生理实验室、育种机构的科研人员,一套专业的根系分析系统应具备:高分辨率双光源扫描仪(4800×9600dpi)、可分析根系总长、平均直径、总面积、总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、直径等级分布参数,还能进行拓扑分析、颜色分析、分形维数测定,并兼测果荚、针叶、粒芒等。优云谱根系分析系统正是为此设计,配备光学分辨率4800×9600的A4加长双光源彩色扫描仪,配合专用根系分析软件,通过非统计学方法测量根系形态学参数,支持云平台存储和中英文双语切换。该仪器由高新技术企业(编号:GR202537003143) 研发生产,并通过质量管理体系认证(注册号:78323Q0302R0S),确保数据分析的准确性和可靠性。

仪器用途:根系研究的专业工具

根系分析系统用于洗根后专业根系分析,还可以用于根盒培养植物的根系表型分析,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,并可兼测针叶、果荚数据,功能强,操作简单。软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等,广泛运用于根系形态和构造研究。

仪器原理:双光源扫描消除阴影干扰

根系分析系统利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像。该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统,并且在扫描面板上预留了双光源校准区域。此外,还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。

扫描时,扫描面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品,这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响,有效地保证了获取的图像质量。

本软件可以读取TIFF、JPEG标准格式的图像。针对获取的图像,利用插入解密的软件,对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数,从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。

技术指标:25项功能全面覆盖根系分析

1. 硬件参数
配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。根系反射稿幅面为355.6mm×215.9mm,透扫幅面为320.0mm×203.2mm,最小像素尺寸0.005mm×0.0026mm。

2. 可分析测量指标

根总长

分支频率

根平均直径

根直径中值

最大直径

根总面积

总投影面积

根总体积

根尖计数

分叉计数

交叠计数

根直径等级分布参数

可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等,及其分布参数

能进行根系的颜色分析,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积

能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,还能单独地自动分析任意一段根的长度、面积、体积等,可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(可不等间距地自定义)

能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果

能用盒维数法自动测根系分形维数

可分析根瘤个数,以客观确定根瘤菌体贡献量

大批量的全自动根系分析,批量保存,可将整体数据汇总后保存在一个表格中,也可保存每一个根系的详细数据

向地角分析、水平角分析提取分析特性

能兼测大豆、花生等果荚的果柄、果身、果喙部分的粗细、长、弧长、弧玄高等参数

能兼测各种粒的芒长及一些小的叶片的叶柄长

能兼测各类针叶的面积、长度、宽度

各分析图像、分布图、结果数据可保存,并输出至Excel表,可输出分析标记图

仪器有云平台支持,可将分析数据保存到云端随时随地查看

中英文双语显示,一键切换,无缝对接

图像捕捉系统参数

参数

指标

扫描元件

6线交替微透镜CCD

最大幅面

A4

接口类型

USB2.0

光学分辨率

4800×9600dpi

最大分辨率

12800×12800dpi

最小像素尺寸

≥0.005mm×0.0026mm

扫描光源

白色冷阴极荧光灯CCFL

色彩位数

48位

扫描范围

216×297mm

扫描速度(反射稿、A4、300dpi)

单色11秒,彩色14秒

扫描速度(胶片扫描、35mm、2400dpi)

正片47秒,负片44秒

品质保障

优云谱作为高新技术企业(编号:GR202537003143),在植物表型分析仪器领域拥有完整的质量与安全管理体系。公司已通过质量管理体系认证(注册号:78323Q0302R0S)环境管理体系认证(78323E0155R0S)职业健康安全管理体系认证(78323S0146R0S),并持有企业信用等级证书(HYJC-202303690XW01)重服务守信用单位(HYJC-202303690XW06) 等资质。每一套根系分析系统均经过严格的图像质量验证和软件功能测试,确保分析结果准确、可重复。

总结

优云谱根系分析系统的核心优势在于:双光源4800×9600dpi高分辨率扫描消除阴影干扰,可分析根总长、平均直径、总面积、体积、根尖数、分叉数、交叠数、直径等级分布、颜色分类、拓扑结构、分形维数、根瘤个数,支持自定义分段直径、分叉裁剪修正、批量全自动分析、向地角与水平角分析,并能兼测果荚、针叶、粒芒、叶柄等。所有数据可保存至Excel、输出分析标记图,并支持云平台存储和中英文切换。无论是根系形态比较、育种筛选,还是根系结构与土壤养分关系研究,这套系统都能提供快速、精准、可追溯的分析结果。

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