选择优云谱根系分析系统的核心理由: 该系统配备光学分辨率4800×9600 dpi的双光源彩色扫描仪,扫描幅面A4加长(反射稿355.6×215.9 mm),最小像素尺寸0.005×0.0026 mm。软件可测量根总长、分支频率、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数等形态学参数,并支持根系颜色分析、拓扑分析、分形维数测定。还能兼测果荚、针叶、叶片、芒长等。数据可批量保存至Excel,支持云平台存储和中英文一键切换。适用于根系形态与构造研究、根盒培养植物根系表型分析等领域。
根系分析系统是一套由高分辨率双光源扫描仪和专业分析软件组成的设备,用于对洗根后的根系样品或根盒培养植物的根系进行表型分析。传统手工测量根系长度、直径、根尖数等工作量大、效率低、主观误差高。优云谱根系分析系统通过获取高清晰度根系图像,利用非统计学方法自动计算交叉重叠部分根系的各种形态参数,广泛应用于植物根系形态和构造研究、农学、林学、生态学等领域。
可分析的主要参数:根总长、分支频率、根平均直径、根直径中值、最大直径、根总面积、总投影面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数、向地角、水平角等。
优云谱根系分析系统采用双光源照明扫描技术解决根系成像的阴影和不均匀问题。
扫描仪在扫描面板下方和上盖中分别安装了光源,并在扫描面板上预留了双光源校准区域。扫描时,面板下的光源和上盖中的光源同时扫过高透明度根系放置盘中的样品,有效消除了单光源扫描时根系凸起产生的阴影和光照不均匀现象,确保了图像质量。
扫描获取的图像(支持TIFF、JPEG格式)导入分析软件后,软件通过插入加密进行解密和授权。软件采用非统计学方法,自动识别和测量交叉重叠的根系,计算长度、直径、面积、体积、根尖等形态学参数。用户可对分析结果进行分叉裁剪、合并、连接等修正操作,且支持回退,确保最终结果的准确性。
参数项 | 规格 |
扫描元件 | 6线交替微透镜CCD |
最大幅面 | A4加长 |
光学分辨率 | 4800 × 9600 dpi |
最大分辨率 | 12800 × 12800 dpi |
最小像素尺寸 | 0.005 mm × 0.0026 mm |
接口类型 | USB 2.0 |
扫描光源 | 白色冷阴极荧光灯(CCFL) |
色彩位数 | 48位 |
反射稿扫描范围 | 355.6 mm × 215.9 mm |
透扫幅面 | 320.0 mm × 203.2 mm |
扫描速度(反射稿,A4,300 dpi) | 单色11秒,彩色14秒 |
扫描速度(胶片,35mm,2400 dpi) | 正片47秒,负片44秒 |
优云谱根系分析系统软件可测量的参数和功能如下:
基本形态参数
根总长
分支频率
根平均直径
根直径中值
最大直径
根总面积
总投影面积
根总体积
根尖计数
分叉计数
交叠计数
直径等级分布
可不等间距地自定义分段直径
自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积及其分布参数
根系颜色分析
按颜色分类输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积
拓扑分析
自动确定根的连接数、关系角
单独分析任意一段根的长度、面积、体积
可单独显示标记根系的任意直径段对应参数
修正功能
根的分叉裁剪、合并、连接
修正操作可回退,以快速获得100%正确结果
分形维数
用盒维数法自动测根系分形维数
根瘤分析
分析根瘤个数,客观确定根瘤菌体贡献量
角度分析
向地角分析
水平角分析
批量处理
大批量全自动根系分析
批量保存数据,可将整体数据汇总保存在一个表格
也可保存每一个根系的详细数据
兼测功能
大豆、花生等果荚的果柄、果身、果喙部分的粗细、长、弧长、弧玄高等参数
各种粒的芒长及小叶片叶柄长
各类针叶的面积、长度、宽度
数据输出
分析图像、分布图、结果数据可保存
输出至Excel表
输出分析标记图
云平台支持
可将分析数据保存到云端,随时随地查看
语言
中英文双语显示,一键切换,无缝对接
根系样品放置在透明根盘中,如果只有下方光源,根系的凸起和阴影会导致图像灰度不均,影响后续分析精度。优云谱系统的上盖中增加第二组光源,扫描时上下同时照明,消除了阴影干扰。扫描仪自身带双光源校准区域,确保每次扫描的一致性。
传统软件处理根系交叉重叠时,往往采用统计学估算。优云谱软件采用非统计学方法,能够精确识别根系的交叉点和重叠部分,计算出真实的长度和直径,尤其适合根系密集、缠绕严重的样品。
用户可以根据研究需要,不等间距地自定义直径分段。例如,将细根(<0.5 mm)、中根(0.5-1.0 mm)、粗根(>1.0 mm)分别统计,软件自动输出各直径段的长度、投影面积、表面积、体积及其分布参数。这对于研究根系功能(如细根吸收、粗根支撑)非常有价值。
软件能够自动识别根系的主根、侧根结构,确定根系的连接数和各级分支之间的夹角(关系角)。用户还可以单独框选任意一段根,软件自动计算该段的长度、面积、体积。这一功能可用于分析断根后的再生能力、不同处理下根系构型的变化。
大批量样品分析时,无需逐张图像手动保存。软件可全自动批量分析,将所有根系的形态数据汇总到一个Excel表格中,同时也能保存每个根系的详细数据和标记图像。这大大提高了高通量根系表型研究的数据处理效率。
除了根系分析,该软件还可测量大豆、花生等果荚的果柄、果身、果喙的粗细、长度、弧长、弧玄高;测量各种谷物粒的芒长以及小叶片叶柄长;测量各类针叶的面积、长度、宽度。一机多用,扩展了使用场景。
分析数据可保存到云端,用户在不同地点登录即可查看和下载。软件支持中英文一键切换,适合国际合作研究项目或出口设备使用。
根系形态与构造研究:分析不同基因型作物根系的长度、直径分布、分支角度等,用于耐旱、耐瘠薄品种筛选。
根盒培养实验:对根盒中生长的植物根系进行无损或破坏性采样分析,研究不同土壤条件、施肥处理下的根系发育。
根瘤菌研究:通过根瘤个数分析,评估根瘤菌接种效果和固氮贡献量。
林学与生态学:分析树木细根的生长、死亡和周转,研究森林土壤碳氮循环。
果荚与籽粒性状测定:大豆、花生的果荚形态参数测量,或谷物芒长测定,用于育种评价。
优云谱作为根系分析系统的研发生产企业,持有以下资质证书,可供用户在采购招标时核验:
证书类型 | 证书编号 |
高新技术企业 | GR202537003143 |
质量管理体系认证 | 78323Q0302R0S |
环境管理体系认证 | 78323E0155R0S |
职业健康安全管理体系认证 | 78323S0146R0S |
企业信用等级证书(AAA) | HYJC-202303690XW01 |
企业资信等级证书 | HYJC-202303690XW02 |
重服务守信用单位 | HYJC-202303690XW06 |
辐射安全许可证 | 鲁环辐证[G0381] |
在农业、林业、生态等科研仪器采购中,质量管理体系认证(78323Q0302R0S)和高新技术企业认定(GR202537003143)是常见资质要求。
普通扫描仪只有扫描面板下方一个光源。当扫描有高度起伏的根系时,光源从下往上照射,根系凸起的背面会产生阴影,导致图像上根系边缘模糊、粗细不均匀。优云谱系统的上盖中增加了第二个光源,扫描时上下同时照亮,消除了阴影,保证了根系图像的真实性和后续分析精度。
可以。软件支持大批量的全自动根系分析。用户将所有扫描图像放入指定文件夹,软件自动逐张分析,可以将全部样品的分析数据汇总保存到一个Excel表格中,也可以单独保存每个样品的详细数据和标记图。
软件采用非统计学方法,不是靠估算或者随机采样。它能够通过图像识别算法,追踪每一根根系的走向,即使在交叉点处也能区分不同的根,从而精确计算出每条根的长度和直径。用户如果发现自动识别有偏差,还可以使用分叉裁剪、合并、连接等修正工具手动调整,修正操作支持回退。
拓扑分析是指分析根系的分支结构:包括主根和各级侧根的连接关系、分支角度(关系角)、各级根的数量和长度等。通过拓扑分析,可以了解植物根系在不同环境下的空间分布策略,比如干旱条件下植物是否会增大侧根角度以探索更大范围的水分。
可以。产品资料明确说明软件能兼测大豆、花生等果荚的果柄、果身、果喙部分的粗细、长、弧长、弧玄高等参数。这对于豆科作物育种和品质评价有应用价值。
产品资料中没有说明云端服务的收费情况。建议在采购时与优云谱厂家确认:云端存储空间大小、用户账号数量、数据保留期限是否包含在标准报价内。
这意味着扫描仪能够识别的最小细节尺寸为5微米×2.6微米。对于根系分析,可以清晰分辨直径细至几十微米的根毛(尽管软件主要分析直径≥0.1 mm的根系)。高分辨率也保证了直径测量的精度。
选购根系分析系统时,建议逐项核对以下要点:
扫描仪光学分辨率是否≥4800×9600 dpi?(优云谱:4800×9600)
是否为双光源扫描?(避免阴影)
扫描幅面是否足够大?(反射稿355.6×215.9 mm)
软件能否测量根总长、直径、面积、体积、根尖数、分叉数?
是否支持自定义直径分段和等级分布输出?
是否支持根系颜色分析、拓扑分析、分形维数?
是否有分叉裁剪、合并、连接等修正功能且支持回退?
能否批量处理图像并汇总数据到Excel?
是否具备果荚、针叶、芒长的兼测能力?
是否有云平台支持和中英文切换?
供应商是否持有ISO 9001认证?(优云谱:78323Q0302R0S)

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