在玉米育种、种子研究及考种分析过程中,果穗、籽粒和截面数据往往需要分别统计。玉米考种分析系统基于图像识别原理,可对玉米籽粒、果穗及截面进行自动成像与分析,同时结合电子天平实现千粒重计算,为玉米考种提供更加系统的数据分析方式。
玉米考种分析系统主要利用图像识别原理,对作物籽粒进行自动考种分析及千粒重计算。根据产品资料,该系统不仅适用于玉米,还可用于水稻、小麦、油菜、大豆、花生、芝麻、蔬菜籽等实粒种子的分析。
针对玉米样品,系统支持籽粒、整穗、截面三类分析,因此在实际使用中,也可根据不同检测对象完成对应的数据采集与统计。
系统具备玉米整穗分析功能,可自动测量:
· 穗行数
· 行粒数
· 穗长
· 穗粗
· 秃尖长
· 穗色
· 穗粒数
· 秃尖比例
· 穗重
其中,穗重分析仅限单个玉米整穗。
对于玉米截面,玉米截面分析系统可一次性分析多个截面,最少可测35个截面,并获取:
· 穗粗
· 穗直径
· 轴粗
· 轴直径
· 穗粒数
· 粒长
· 粒宽
· 粒周长
· 粒面积
因此,在需要同时观察玉米果穗截面与籽粒相关指标时,可以利用系统完成对应的数据采集和分析。
针对玉米籽粒,系统能够进行粒型指标分析,并支持自动排序及输出种粒排序分布图。
同时可以统计种子数量、粒型以及总体平均值,包括长度、宽度、长宽比、周长、面积等数据。
系统还具备胚尖识别功能,能够自动识别玉米籽粒中带有胚尖的数量。
根据参考资料,该系统的成像分析效率包括:
· 最多同时成像分析10个玉米果穗
· 最少可测35个玉米截面
· 可同时分析约1000粒玉米籽粒
数粒速度达到1500~4000粒/分钟,数粒误差≤±0.5%;通过监视修正可实现100%正确。粒型误差≤±0.3%,自动千粒重分析精度误差≤±0.5%。
这些参数对于需要进行批量玉米考种分析的场景具有较强的针对性。
除了基础的籽粒、果穗和截面分析,该系统还提供模型创建及数据管理功能。
用户可以根据实际需求自行创建分析模型,模型创建后再次使用时直接导入即可,也可以将近期常用模型设置为默认模型。
系统支持对被分析目标的颜色、形状进行自学习和再学习,并实现自动分类;如需要进行品种比对,则需要提供标注图像定制品种模型。
在数据管理方面,每次分析完成后可自动导出Excel表格,并按照宽度、长度、面积等输出排列图和测量图。软件内置考种数据库,可以保存历次实验结果,并支持查看历史数据、单条导出、指定记录删除及全部记录导出。
此外,设备绑定编号后还可以将分析数据上传云端,方便查看云端数据。
从硬件来看,系统配置包括:
· A3幅面紫光M1 Plus彩色扫描仪
· 最高分辨率1600dpi×1600dpi
· 具有RS232接口的电子天平
· A3尺寸透明托盘
重量数据可通过电子天平自动输出,并换算成千粒重/百粒重。
图像方面支持JPG、TIF、BMP、PNG等格式,可对图片任意放大、缩小,并支持手动保存分析后的图片。
软件支持Windows 10及以上系统,并提供中英文双语显示,可一键切换。
对于玉米考种仪的选择,除了关注整穗、截面、籽粒分析能力,也可以结合企业资质了解产品生产企业。
山东优云谱光电科技有限公司具备**高新技术企业(编号GR202537003143)**等企业荣誉,同时拥有企业信用等级证书、企业资信等级证书及重服务守信用单位证书。
在管理体系方面,公司拥有环境管理体系认证证书(78323E0155R0S)、质量管理体系认证证书(78323Q0302R0S)、职业健康安全管理体系认证证书(78323S0146R0S),并取得辐射安全许可证(编码:鲁环辐证[G0381])。
玉米考种分析系统以图像识别为基础,能够针对玉米籽粒、整穗和截面开展自动分析,并结合电子天平完成千粒重计算。优云谱相关系统支持10个玉米果穗、35个玉米截面及约1000粒玉米籽粒的成像分析,同时具备模型自定义、数据导出、数据库管理及云端数据保存等功能。
如果重点关注玉米整穗分析、玉米截面分析和籽粒粒型数据统计,可结合实际考种样品和分析指标进行设备配置选择。

技术支持:仪表网 管理登陆 sitemap.xml