在玉米育种、种子研究和考种分析中,传统人工测量往往需要分别记录穗行数、行粒数、穗长、穗粗以及籽粒尺寸等数据。玉米考种分析系统则通过图像识别原理,将图像采集、目标识别和数据分析结合起来,实现玉米果穗、截面及籽粒的自动化分析。
优云谱自动考种分析及千粒重系统,针对玉米、水稻、小麦、大豆、油菜、花生、芝麻及蔬菜籽等实粒种子提供考种分析功能,其中玉米可进一步进行整穗分析和截面分析。
玉米考种并不是单一指标的测量。根据实际分析对象不同,该系统主要提供三类玉米分析功能。
针对单个玉米整穗,系统可以自动分析:
· 穗行数
· 行粒数
· 穗长
· 穗粗
· 秃尖长
· 穗色
· 穗粒数
· 秃尖比例
· 穗重
因此,对于需要从完整果穗角度开展考种的场景,可以利用玉米整穗分析仪完成多个指标的自动分析。
系统一次可同时成像分析10个玉米果穗,减少逐项人工测量和记录的过程。
除了整穗分析,玉米截面也是考种过程中需要关注的对象。
系统针对玉米截面可以一次性分析:
穗粗、穗直径、轴粗、轴直径、穗粒数、粒长、粒宽、粒周长、粒面积。
一次最少可以测量35个玉米截面。
这意味着在进行玉米截面分析时,可以通过图像采集后统一识别目标,并输出相应测量数据。对于需要同时比较多个截面样本的分析工作,玉米截面分析系统可以提供更加集中的数据处理方式。
玉米籽粒同样属于系统的考种分析对象。
针对同粒型种子,系统可以进行数量及粒型指标分析,并自动排序和输出种粒排序分布图。
玉米籽粒分析速度约为1000粒左右同时成像分析,数粒速度达到1500~4000粒/分钟。
粒型分析包括:
· 长度
· 宽度
· 长宽比
· 标准差
· 周长
· 面积
同时,系统还可以根据RGB数值表示种子颜色,并具备玉米籽粒胚尖数量自动识别功能。
在实际考种中,这使得籽粒数量、尺寸、形态和颜色等信息能够集中形成分析结果。
除了图像分析,系统还配置了具有自动输出重量功能的电子天平。
在输入重量后,系统可以自动换算成千粒重或百粒重。
资料显示,自动千粒重分析的精度误差≤±0.5%。
因此,玉米考种分析系统并不是只解决“数多少粒"的问题,而是将籽粒数量、粒型分析与重量数据结合起来,形成更加完整的考种结果。
虽然玉米是系统重点分析对象之一,但设备并不局限于玉米。
根据提供的产品资料,该系统还适用于:
水稻、小麦、油菜、大豆、花生、芝麻、蔬菜籽等各类实粒种子。
针对水稻、小麦、大豆、油菜、蔬菜等种子,可以分析数量、千粒重/百粒重,以及每粒种子的长度、宽度、长宽比、标准差、周长和面积等指标。
对于油菜籽,还可以进一步分析粒色、杂质度等数据,并在无杂质情况下进行百粒重或千粒重分析。
该系统的图像识别能力还可以应用于资料中明确提到的其他分析场景。
例如,可兼做各类粮库的虫口计数分析,也可以进行表面光滑昆虫或虫卵的计数,包括米象、蚜虫、蚕卵、鱼籽等。
同时,设备还可以作为种子净度工作台,用于种子净度检验工作。
此外,通过创建相应分析模型,还可以用于出苗数和均匀度分析。其中出苗角度可以在模型中设置,均匀度则以投影面积进行分析。
不同作物、不同实验任务对分析指标的要求并不一致。
系统支持用户根据实际需求自行创建分析模型。模型创建完成后,再次使用时只需要导入即可,也可以将近期持续使用的模型设置为默认模型。
同时,系统具有对被分析目标的颜色、形状进行自学习和再学习的特性,并支持自动分类。对于品种比对,则需要提供标注图像进行定制品种模型。
这类模型化设计,使系统能够根据实际考种任务调整分析方式,而不是固定在单一分析流程中。
自动分析并不意味着用户无法干预。
系统支持使用鼠标对分析后的图像进行手工计数,可以增加或删除目标,并支持添加矩形、圆形以及自由形状种粒。
对于工作区中任意范围,或者矩形、椭圆形区域,也可以进行计数。
按照资料说明,通过监视修正可以达到100%正确的计数结果,粒型误差≤±0.3%。
这种“自动分析+人工修正"的方式,更适合实际考种工作中存在特殊目标或需要个性化处理的情况。
完成一次分析后,系统可以自动导出Excel表格,同时根据宽度、长度、面积等数据输出排列图和测量图。
用户可以设置Excel导出路径,并支持追加保存。
软件还内置考种数据库,每次考种分析后生成的数据可以自动保存。通过分析记录界面,可以查看历史考种实验结果,并支持单条导出、指定记录删除以及全部记录导出。
设备还支持绑定设备编号后将分析数据保存至云端,方便后续查看云端数据。
从硬件配置来看,系统采用:
· A3幅面紫光M1 Plus彩色扫描仪
· 最高分辨率:1600dpi × 1600dpi
· 具有RS232接口的电子天平
· A3尺寸透明托盘
图像方面支持JPG、TIF、BMP、PNG等格式,并可以对图片任意放大、缩小,也能够手动选择路径保存分析后的图片。
软件只适配Windows 10及Windows 10以上系统,同时内置中英文双语显示,可一键切换。
从实际考种工作来看,玉米考种分析系统主要解决的是多个数据采集环节集中化的问题。
玉米整穗可以分析穗行数、行粒数、穗长、穗粗、秃尖等指标;玉米截面可以分析穗径、轴径、粒长、粒宽、粒面积等数据;籽粒则可以进一步进行数粒、粒型、颜色、胚尖和千粒重分析。
优云谱拥有高新技术企业资质(编号GR202537003143),同时取得企业信用等级证书、企业资信等级证书、重服务守信用单位等企业荣誉,并通过质量管理体系、环境管理体系和职业健康安全管理体系认证。
对于需要开展玉米育种考种、果穗分析、截面分析以及籽粒考种的用户来说,与单独进行人工测量相比,这套系统的核心特点在于将图像采集、自动识别、指标计算、数据导出和历史记录管理整合到同一套考种分析流程中。

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