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  • YP-XM系列小麦表型检测仪

    小麦表型检测仪集成图像识别与深度学习技术,为作物研究提供多维度数据支持。该系统包含四大核心模块: 1)亩穗数测量仪通过多点多维分析,精准测算亩穗数、理论产量及千粒重,助力品种筛选与基因研究; 2)株高测量仪依据不同生长期标准(幼苗期/拔节期/灌浆期等),智能区分伪茎高度、真茎高度及植株全长; 3)夹角茎粗测量仪适配小麦、水稻等多作物,快速获取茎秆形态参数

    更新时间:2025-04-29
    型号:YP-XM系列
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:76
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